Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統
2016-03-18
Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系 統，Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進行 檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配 置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于 載盤可能存在制造公差導致待測物對焦距離均不 相同，Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統配置了自動對焦系統，可自 動計算待測物之對焦距離并進行補償，以確保可 以取得清楚的檢測影像。
使用者可以自由設定良品與不良品之規則及缺陷 編碼，并依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑 揀及下片均為全自動化流程，大幅降低人員操作 及制程管理發生錯誤的機會。檢測完成后，工程 師可以取得詳細的缺陷量化數據，以及儲存缺陷 影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢 測資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有 助于分析制程問題，并進一步提升產品良率。長沙艾克賽普儀器設備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區域的總代理，以下為長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統的技術參數及產品特點，如果您想對Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統有更多的了解，歡迎致電長沙艾克賽普儀器設備有限公司，聯系電話：0731-84284278 84284378。更多產品信息歡迎點擊：m.jeraylynn.com。長沙艾克賽普儀器設備有限公司。
Chroma Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系統主要特色：
可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷
具備自動對焦功能，可克服載盤制造公差內的高度差異
檢測完成后可依設定規格挑揀不良品
提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性
每小時最高可檢測3600顆待測物
自動化上下料盤，減少人員上下料時間
提供完整的檢測資料，包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析
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